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低電阻測(cè)試儀

Trek表面電阻測(cè)試儀日置低電阻測(cè)試儀固緯低電阻測(cè)試儀安柏低電阻測(cè)試儀和普低電阻測(cè)試儀同惠低電阻測(cè)試儀

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RM3544日置低電阻測(cè)試儀

更新時(shí)間：2025-09-01

型號(hào)：RM3544

人氣：1497

日置低電阻測(cè)試儀隨著變頻器電源裝置的大電流化，諧波數(shù)化，回路中所使用的變頻器需要改良得更低電阻以及低損耗，所以需要能夠穩(wěn)定的能夠測(cè)量更低電阻的需求便應(yīng)運(yùn)而生。1μΩ分辨率的RM3544能夠滿足上述要求。在電子零部件方面，多用于導(dǎo)電薄膜/導(dǎo)電橡膠等高電阻材料，最大可對(duì)應(yīng)3.5MΩ。另外，因?yàn)樽罡呔仁?.02%，所以檢查0.1%精度的電流檢測(cè)器也能使用。
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RM3545日置低電阻測(cè)試儀

更新時(shí)間：2025-09-01

型號(hào)：RM3545

人氣：1458

日置低電阻測(cè)試儀RM3545是6位半，1,200,000點(diǎn)顯示，最小分辨率可測(cè)量0.01μΩ的電阻。在變頻器馬達(dá)的線圈檢查等需要高分辨率的電阻測(cè)量等領(lǐng)域游刃有余。在電子零部件方面，多用于導(dǎo)電薄膜/導(dǎo)電橡膠等高電阻材料。RM3545可最大測(cè)量到1200MΩ，具備了最高精度0.006%。
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HP3540B和普低電阻測(cè)試儀

更新時(shí)間：2025-08-31

型號(hào)：HP3540B

人氣：1413

HP3540A/ HP3540B和普低電阻測(cè)試儀是和普電子在電阻測(cè)試領(lǐng)域多年的測(cè)試經(jīng)驗(yàn)下重點(diǎn)推出的一款針對(duì)電纜、材料、分流器等行業(yè)的超低電阻測(cè)試需求的直流電阻測(cè)試儀，具有業(yè)內(nèi)超高精度和高穩(wěn)定性，測(cè)試最小分辨率可達(dá)0. 1 μ Ω。采用脈沖正反向電流測(cè)試模式，相比傳統(tǒng)直流電阻測(cè)試儀在測(cè)試同等小電阻時(shí)僅需十分之一電流，極大的降低了大電流在測(cè)試過程中對(duì)被測(cè)物發(fā)熱帶來的測(cè)試誤差。
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HP3540A和普低電阻測(cè)試儀

更新時(shí)間：2025-08-31

型號(hào)：HP3540A

人氣：1251

HP3540A/ HP3540B和普低電阻測(cè)試儀是和普電子在電阻測(cè)試領(lǐng)域多年的測(cè)試經(jīng)驗(yàn)下重點(diǎn)推出的一款針對(duì)電纜、材料、分流器等行業(yè)的超低電阻測(cè)試需求的直流電阻測(cè)試儀，具有業(yè)內(nèi)超高精度和高穩(wěn)定性，測(cè)試最小分辨率可達(dá)0. 1 μ Ω。采用脈沖正反向電流測(cè)試模式，相比傳統(tǒng)直流電阻測(cè)試儀在測(cè)試同等小電阻時(shí)僅需十分之一電流，極大的降低了大電流在測(cè)試過程中對(duì)被測(cè)物發(fā)熱帶來的測(cè)試誤差。
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HP3542和普低電阻測(cè)試儀

更新時(shí)間：2025-08-31

型號(hào)：HP3542

人氣：1255

HP3545/3542和普低電阻測(cè)試儀是業(yè)內(nèi)較高精度等級(jí)的直流電阻測(cè)試儀之一。HP3545直流電阻測(cè)試儀為6位半，1.200,000顯示，低功率測(cè)試模式，最小分辨率可測(cè)量0.01μΩ的電阻，測(cè)試儀精度0.01%，應(yīng)用于精密電阻批量分選和分流器精確測(cè)試等需要高分辨率電阻測(cè)量的領(lǐng)域。HP3545具有高速的測(cè)試線異常檢測(cè)功能和極短的測(cè)量周期，最高測(cè)試速度可達(dá)2.2ms，能確保每次做出高速可靠的分選。
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HP3545和普低電阻測(cè)試儀

更新時(shí)間：2025-08-31

型號(hào)：HP3545

人氣：1272

HP3545/3542和普低電阻測(cè)試儀是業(yè)內(nèi)較高精度等級(jí)的直流電阻測(cè)試儀之一。HP3545直流電阻測(cè)試儀為6位半，1.200,000顯示，低功率測(cè)試模式，最小分辨率可測(cè)量0.01μΩ的電阻，測(cè)試儀精度0.01%，應(yīng)用于精密電阻批量分選和分流器精確測(cè)試等需要高分辨率電阻測(cè)量的領(lǐng)域。HP3545具有高速的測(cè)試線異常檢測(cè)功能和極短的測(cè)量周期，最高測(cè)試速度可達(dá)2.2ms，能確保每次做出高速可靠的分選。
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HP3544-2H和普低電阻測(cè)試儀

更新時(shí)間：2025-08-31

型號(hào)：HP3544-2H

人氣：1265

HP3544-2H和普低電阻測(cè)試儀是高性能電阻測(cè)試儀，0.1μΩ~3.1MΩ的測(cè)試范圍，0.02%的基本精度可以滿足大多數(shù)的電阻測(cè)試應(yīng)用場(chǎng)合。抗干擾的電路設(shè)計(jì)使得該儀器能夠在各種復(fù)雜的電磁環(huán)境下完成準(zhǔn)確測(cè)試，標(biāo)配RS232/RS485/LAN通訊接口和I/O接口，特別適合配套自動(dòng)化設(shè)備完成自動(dòng)測(cè)試。
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HP3548和普手持式低電阻測(cè)試儀

更新時(shí)間：2025-08-31

型號(hào)：HP3548

人氣：1288

HP3544/CHT3548和普手持式低電阻測(cè)試儀是高性能電阻測(cè)試儀，針對(duì)不同應(yīng)用場(chǎng)合分別設(shè)計(jì)臺(tái)式和手持式兩種款式。0.1μΩ~3.1MΩ的測(cè)試范圍，0.02%的基本精度可以滿足大多數(shù)的電阻測(cè)試應(yīng)用場(chǎng)合。抗干擾的電路設(shè)計(jì)使得該儀器能夠在各種復(fù)雜的電磁環(huán)境下完成準(zhǔn)確測(cè)試，HP3544標(biāo)配RS232/RS485/LAN通訊接口和I/O接口，特別適合配套自動(dòng)化設(shè)備完成自動(dòng)測(cè)試。
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